產(chǎn)品介紹
美國 GGB Model 40A 高性能微波探針

美國 GGB Model 40A 高性能微波探針

一、產(chǎn)品概述

Model 40A 高性能微波探針可搭配三種不同轉(zhuǎn)接底座使用，依托同軸結(jié)構(gòu)，是射頻晶圓測試領(lǐng)域級探針，覆蓋直流至 40GHz 全頻段測試，適配各類微波探針臺、探針卡、多觸點楔塊，廣泛用于半導(dǎo)體、射頻芯片、激光二極管、陶瓷基板高頻測量。

二、核心產(chǎn)品特性

耐用可靠

測試頻段：DC～40GHz

插入損耗：≤0.8dB

回波損耗：＞18dB

測量重復(fù)性：-80dB

獨立彈性彈片觸點，單點獨立緩沖

可選鈹銅 / 鎢合金探針針尖

針尖間距（節(jié)距）50～1250 微米可定制，超 1250 微米可特殊定制

支持多種針尖布局方案

同軸結(jié)構(gòu)優(yōu)勢

Model 40A 搭載低損耗同軸設(shè)計，大幅優(yōu)化 40GHz 頻段射頻性能：標準款插入損耗低于 0.8dB、回波損耗高于 18dB，打破傳統(tǒng)共面探針性能上限。

針尖采用獨立彈性鈹銅觸點，可選耐磨鎢合金針尖，即便測量非平面器件也能形成穩(wěn)定低阻接觸，保障測量重復(fù)性；探針針尖可視設(shè)計，定位精準，便于 LRM 校準操作。

三、安裝適配方案

可裝配多款標準轉(zhuǎn)接底座，適配通用微波探針臺；也可搭配薄型刀座，用于探針卡直流針、多觸點楔塊組合測試，支持定制專屬安裝座。

針尖布局可選：地 - 信號 - 地（GSG）、地 - 信號（GS）、信號 - 地（SG），推薦小間距 GSG 布局以獲得射頻性能。

接口標配 K 型母頭，兼容 3.5mm、SMA 連接器。

四、彈性針尖設(shè)計，適配復(fù)雜測試面

每支探針均配備獨立彈性針尖：

彈性緩沖避免劃傷被測電路，延長探針使用壽命；

適度下壓可自動清潔接觸面灰塵、氧化層，形成穩(wěn)定無干擾接觸；

可視針尖精準對位，輕松完成高精度 LRM 校準；

可測量陶瓷基板、激光二極管等非平面器件。

五、微型同軸傳輸結(jié)構(gòu)，提升高頻性能

探針至連接器采用精密 50Ω 微型同軸線纜，相比共面結(jié)構(gòu)輻射更小、損耗更低；線纜采用柔性鈹銅材質(zhì)，大幅提升探針耐用度。

六、探針卡 & 多觸點楔塊配套方案

Model 40A 可裝配標準 4.5 英寸探針卡、定制尺寸探針卡，以及專屬多觸點楔塊，適配手動 / 全自動探針臺晶圓高頻測試。

Picoprobe 探針卡與多觸點楔塊可混合搭載 40/50/67/110GHz 射頻探針 + 直流針，分別負責射頻信號、供電與低頻信號同步測試。

七、全系列微波探針產(chǎn)品線

Model 40A 拓展定制選項

定制轉(zhuǎn)接底座，同軸線纜可彎折適配狹小空間；

特殊針尖布局，適配非平面、非對稱接地器件；

鎢合金耐磨針尖；高溫款 40AHT；信號端集成串聯(lián) / 終端電阻；

更高頻段機型

測試頻率高于 40GHz 可選 Model 50A/67A/110A/H，覆蓋 DC～110GHz；

波導(dǎo)輸入探針系列

Model 50/75/90/120/140/220，可選集成偏置 T 型件，用于有源器件測試。

八、企業(yè)定制服務(wù)能力

GGB 擁有定制探針研發(fā)與生產(chǎn)能力，可針對各類高難度測試需求提供專屬解決方案；同時供應(yīng)高阻抗有源探針，輸入電容 0.02pF，最高帶寬 3GHz。

九、核心性能參數(shù)

1. GSG（地 - 信號 - 地）布局（P 型標準款，50–300μm 節(jié)距）

頻段：DC～40GHz

插入損耗：40GHz 內(nèi)≤1.0dB（典型 0.7dB）

回波損耗：≤4GHz 優(yōu)于 30dB（典型 35dB）；≤26GHz 優(yōu)于 20dB（典型 23dB）；≤40GHz 優(yōu)于 18dB（典型 20dB）

串擾：40GHz 內(nèi)＜38dB

*C/T 型底座插入損耗≤1.2dB（典型 0.9dB），其余參數(shù)一致

* 串擾測試條件：兩支探針間距 100μm 接觸裸藍寶石基板

2. GS/SG 布局（P 型標準款）

頻段：DC～40GHz

插入損耗：40GHz 內(nèi)≤2.0dB（典型 1.6dB）

回波損耗：≤4GHz 優(yōu)于 30dB

十、型號命名規(guī)則（訂貨規(guī)范）

格式：40A - 布局 - 節(jié)距 - 底座型號

布局：GSG / GS / SG（S = 信號針，G = 接地針）

節(jié)距：單位微米，50～1250μm；超寬間距需聯(lián)系工廠定制

底座型號：共 13 種標準底座 T/C/GR/P/DP/EDP/LP/Q/F/S/DS/VP/RVP

P/DP/EDP/LP/Q/S/DS/VP/RVP：連接器 45° 向后傾斜，預(yù)留上方操作空間

DP/EDP/DS/VP/RVP：探針下方預(yù)留更大避空高度；DP/EDP/DS 下壓行程更長，定位難度略高

示例：40A-GSG-150-P = Model40A、GSG 三針布局、150 微米節(jié)距、P 型轉(zhuǎn)接底座

GGB Industries（Picoprobe）品牌簡介

一、品牌發(fā)展歷程

GGB Industries 創(chuàng)立于 1980 年，旗下 Picoprobe® 微波與示波器探頭系列深耕全球半導(dǎo)體晶圓探測市場。品牌初期推出高阻抗故障排查探頭，用于邏輯、存儲芯片內(nèi)部診斷；1988 年自研 50Ω 共面柔性針尖同軸微波探針，革新晶圓微波探測技術(shù)；1992 年推出高性能 W 波段毫米波探頭，奠定全球微波探針龍頭地位。品牌核心優(yōu)勢：精密制造工藝、超高探測精度、客戶服務(wù)、定制化測試解決方案。

二、Picoprobe 核心優(yōu)勢

極小體積：適配高密度微電子芯片，狹小空間測試，無電路干擾；

超高精度：支持納米級信號檢測，穩(wěn)定捕捉高頻、微弱電信號，測量數(shù)據(jù)精準；

無損探測：非侵入式接觸芯片表面，不損傷被測器件。

三、核心應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體（核心場景）

集成電路測試（處理器、存儲器等各類 IC）、芯片故障定位與根源診斷，提升芯片可靠性、縮短故障排查周期；

拓展行業(yè)

光電子（光柵、光電耦合器、光電傳感器檢測）、納米科技（納米尺度電學(xué)、表面特性觀測）、生物醫(yī)學(xué)（細胞 / 組織高分辨率成像與特性分析）。

四、主營產(chǎn)品

Picoprobe 高阻抗有源探頭、微波測試探針、探針卡、直流一次性探頭等。

五、全系列主要型號

7-10、7-22、7-35、7-60、7-125、7-175、12C-1-10、12C-1-22、12C-1-35、12C-1-60、12C-1-125、12C-2-10、12C-2-22、12C-2-35、12C-2-60、12C-2-125、12C-4-10、12C-4-22、12C-4-35、12C-4-60、12C-4-125、34A-4-10、34A-4-22、34A-4-35、34A-4-60、34A-4-125、35-1-10、35-1-22、35-1-35、18C-1-10、18C-1-20、18C-1-50、18C-2-10、18C-2-20、18C-2-50、18C-4-10、18C-4-20、18C-4-50、28-5-10、28-5-20、28-5-50、10-500-60-W-2-R-120、A40A-GSG-150-P、40A-GS-150、40A-GSG-150-D-300、40M-GSG-xxx-PLL、67A-GSG-150-P、110H-GSG-100-P、75-GSG-100-BT、90-GSG-150-BT、120-GSG-150-BT、140-GSG-100-BT、170BT-M、220-BT-M、T-4-10、T-4-22、T-4-35、T-4-60、T-4-125