波蘭QWED微波Q表 微波頻率Q表 Type 2

QWED您在EM建模和研究中的合作伙伴
QWED Sp. z o.o.ul


QWED微波Q表，根據(jù)頻率范圍區(qū)分出了3個型號：

type 1:4.4 GHz- 5.2 GHz

type 2:1.4 GHz - 2.6 GHZ

type 3:0.7 GHz - 1.3 GHZ

供貨范圍如圖：



微波頻率Q-Meter(微波頻率Q-Meter)
一種廉價的計算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可通過專用的 SPDR 和 SiPDR 進(jìn)行快速自動測量。

每個微波/材料實驗室的精確介電測量設(shè)置允許用低成本、非常準(zhǔn)確的測量取代昂貴的測量設(shè)備。

微波頻率 Q 表，使用專用的 SPDR 和 SIPDR 諧振器進(jìn)行快速自動測量。專用、用戶友好且高度可配置的應(yīng)用程序允許控制測量過程并輕松管理測量結(jié)果。

SPDR 用于測量層流介電材料(包括 LTCC 襯底)以及沉積在低損耗介電襯底上的鐵電薄膜的復(fù)雜介電常數(shù)。此外，SPDR還可用于測量各種導(dǎo)電材料的表面電阻和電導(dǎo)率，例如商業(yè)電阻層、導(dǎo)電聚合物薄膜或高電陽率半導(dǎo)體。這種測量僅適用于Rs>5 kΩ/平方的大表面電阻樣品。

SiPDR 用于測量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及半導(dǎo)體品片電導(dǎo)率的非接觸式測量?？蓽y量的薄膜材料范圍包括電阻層金屬薄膜和導(dǎo)電聚合物薄膜，表面電阻 Rs<20 kQ/square。

傳統(tǒng)上，使用諧振器進(jìn)行最、精確的測量是使用自動網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行的。

QWED開發(fā)了一種廉價的計算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可通過專用的SPDR和SiPDR進(jìn)行快速自動測量。

Q-Meter 的硬件部分由 PLL穩(wěn)定的微波源和 DDS 生成的基準(zhǔn)電壓源組成，由快速 32 位 ARM 微控制器控制。寬帶對數(shù)功率檢測器用于測量通過諧振器的發(fā)射功率電平。多點共振曲線擬合算法將使Q 因子能夠準(zhǔn)確計算。唯、一需要的外部信息是被測樣品的厚度。硬件非常簡單，并且使用計算機(jī)屏幕來顯示結(jié)果，從而顯著降低了開始探索具有SPDR和SiPDR的材料電磁特性的成本。

微波率 Q-Meter可以通過 US8端口連接到計算機(jī)，專用應(yīng)用程序允許控制測量過程并輕松管理測品結(jié)果。使用專用的 SPDR和 SIPDR，可以測量材料的以下電磁特性

介電常數(shù)(僅限 SPDR)

介電損耗角正切(僅限 SPDR)

電阻率

薄膜的片材電阻

連接到 SPDR 和計算機(jī)的微波頻率 Q 表。微波頻率 Q 表連接到 SiPDR 和計算機(jī)。

注意：QWED微波Q表需配合QWED的 SPDR/SiPDR 諧振器一同使用。

技術(shù)規(guī)格:

前面板和后面板標(biāo)識：1 - 模式指示燈：綠色 - 待機(jī)模式，綠色閃爍 - 測量中，紅色 - 錯誤；2 - 信號源輸出（SMA 母頭）；3 - 探測器輸入（SMA 母頭）；4 - 迷你 USB 連接器

硬件：電源：5V (USB)，~400 mA；測量精度：ε：Q>1000 為 1%；坦 δ：Δtanδ=±2×10?? 或 ±0.03×tanδ，以較高者為準(zhǔn)；測量的 Q 因子范圍：200~100000；頻率范圍：類型 1: 4.4 GHz ~ 5.2 GHz，類型 2: 1.4 GHz ~ 2.6 GHz，類型 3: 0.7 GHz ~ 1.3 GHz；頻率分辨率：1 千赫；頻率穩(wěn)定性：2.5 頁 / 分鐘（注：推測可能為 “2.5 ppm / 分鐘"，按原文保留）；輸出功率：12 dBm ± 3 dBm；輸入功率范圍：-55 dBm ~ -5 dBm；測量時間：< 10 秒；大?。?9 毫米 ×72 毫米 ×108 毫米；重量：250 克

軟件：專用控制應(yīng)用：Windows 操作系統(tǒng)；導(dǎo)出結(jié)果：CSV 文件格式，BMP 圖片；導(dǎo)入結(jié)果：CSV 文件格式

波蘭QWED成立于1997年，開發(fā)和生產(chǎn)具有最高精度的電磁模擬器，多種類型的諧振器用于精確測量微波頻率下材料的電磁特性和微波頻率 Q-Meter- 一種廉價的計算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可使用專用諧振器進(jìn)行快速自動測量。

主要產(chǎn)品分為EM軟件和材料測量產(chǎn)品。

材料測量

介電材料的完整測量裝置，包括測試夾具（諧振器）和經(jīng)濟(jì)高效的微波 Q 計。

幾種類型的諧振器，用于精確測量微波頻率下材料的電磁特性。

一種新型的法布里-珀羅開放諧振器 （FPOR），帶有高斯鏡，用于在 20-110GHz 頻率范圍內(nèi)對低損耗介電片的電磁特性進(jìn)行自動寬帶和精確諧振測量。

使用便攜式 2D 掃描儀對材料樣品進(jìn)行高效成像，該掃描儀集成了 10GHz 分柱式介質(zhì)諧振器，由低外形矢量或標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀驅(qū)動。

微波 Q-Meter - 一種廉價的計算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可通過專用的 SPDR 和 SiPDR 進(jìn)行快速和自動測量。

測量設(shè)置

介電材料的完整測量設(shè)置，包括具有成本效益的微波 Q 表。

諧振 器

幾種類型的諧振器，用于精確測量微波頻率下材料的電磁特性。

Fabry-Perot 開路諧振器

一種新型法布里-珀羅開式諧振器 （FPOR），帶有高斯鏡，用于自動寬帶和 20-110 GHz 頻率范圍內(nèi)低損耗介電片電磁特性的精確諧振測量。

表面映射

使用便攜式 2D 掃描儀對材料樣品進(jìn)行高效成像，該掃描儀集成了 10GHz 分柱式介質(zhì)諧振器，由低外形矢量或標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀驅(qū)動。

常用產(chǎn)品和型號有

電介質(zhì)諧振器、微波Q表、微波頻率Q表、諧振器、諧振腔、Q-Meter 8.4 - 10.4 GHz、SPDR 10G、SPDR 2.5 GHz、SPRD 10 GHz、Type 2(含軟件)

材料測量類產(chǎn)品有：
分體式介電諧振器 （SPDR），SPDR 基本系列的標(biāo)稱頻率為：1.1 GHz、2.45 GHz、5 GHz、10 GHz 和 15 GHz。1.1 至 15 GHz 范圍內(nèi)其他頻率的諧振器可根據(jù)特殊要求制造。

單柱介質(zhì)諧振器 （SiPDR）

Q-choke 分體式圓柱諧振器 （Q-SCR）Q-SCR 10GHz、SPDR 10 GHz

TE01δ 型介質(zhì)諧振器

用于石墨烯測量的諧振器

法布里-珀羅開放諧振器 （FPOR）

10 - 26.5 GHz、10 - 43 GHz、10 - 50 GHz、10 - 67 GHz、10 - 110 GHz 等

寬帶 FPOR固體電介質(zhì)、D 波段 FPOR固體電介質(zhì)、FPOR液體電介質(zhì)、FPOR導(dǎo)體

用于材料成像的 2D SPDR 掃描儀

波蘭QWED微波Q表 微波頻率Q表 Type 2

QWED Sp. z o.o.ul